Navegando por Autor Veiga Junior, Eli
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Data de defesa | Pré-visualização | Título | Autor | Orientador | Programa | Tipo de documento |
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28-Jun-2023 | Método baseado em análise de imagens speckle e aprendizagem profunda para identificação do defeito germinado na inspeção visual da qualidade de grãos de feijão | Veiga Junior, Eli | Araújo, Sidnei Alves de | Programa de Pós-Graduação em Informática e Gestão do Conhecimento | Dissertação |